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TD-LTE技術試驗系統上行參看信號檢驗條件（二）
2016-1-26 來源：正航儀器 作者：網絡編輯 閱讀：次
⊿ 檢驗項目：上行參看信號 檢驗分項：上行PUCCH解調用參看信號；檢驗目的：驗證E-UTRAN支持配備、接收上行PUCCH解調用參看信號檢驗條件：Ø eNodeB和協作檢驗終端硬件、軟件工作正常；Ø UE已簽約。
⊿ 檢驗進程：選擇配備eNodeB工作為：系統帶寬為20MHz，幀結構為上行/下行配備1、常規長度CP、格外子幀配備7（DwPTS:GP:UpPTS=10:2:2）。
⊿ 用矢量信號分析儀對終端的發射信號進行時、頻域分析；檢驗終端在該小區開機進行隨機接入；檢驗終端進行RRC聯接建立、無線承載建立等進程。
⊿ 對不一樣的PUCCH格式：格式1、1a、1b、2、2b，重復進程1～進程4的檢驗。
⊿ 預期效果：Ø 上行PUCCH解調用參看信號時頻域方位符合標準懇求；Ø 檢驗終端能在該小區正常接入；Ø 檢驗終端能在該小區正常建立數據無線承載。
⊿ eNodeB支持上行參看信號序列循環位移，即eNodeB能夠根據需要配備UE運用恰當的ZC序列循環位移版別發送其上行RS：RRC中配備
⊿ PUCCH-ConfigCommon->deltaPUCCH-Shift參數（取值ds1/ds2/ds3，也即對應值1、2、3。
⊿ 該參數即36.211中）RRC中配備PUCCH-ConfigCommon->nCS-AN（即36.211中5.4節的，取值0～7）。
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